掃描器

3x3x1um （ ± 10%）; 10x10x2um（ ± 10%）; 50x50x3 um （ ± 10%）

zui小掃描步長

0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm

掃描類型

樣品掃描式

SPM頭部

AFM

STM:

30pA - 50nA, 4 p時的ARMS 噪音 （標準的前置放大器）,

10pA - 5nA, 1.5 p時的ARMS噪音 （低電流前置放大器）

剪切力

光學觀察系統(tǒng)

數(shù)值孔徑 0.1

放大倍數(shù)58x to 578x

水平視野 5,1~ 0,51mm

控制系統(tǒng)

SPM 控制箱

振動隔離系統(tǒng)

集成有被動隔離系統(tǒng)

如果需要也可用主動隔離系統(tǒng)

操作模式

1.合理的操作模式：

a. 擴展電阻成像：這個模式在表征半導體的應用中非常有用，因為在該模式下，我們可以利用W2C 或TiO涂層的硅懸臂來測得樣品上某一點的導電率，然后和該點的表明形貌進行比較。

b.  粘附力模式：在掃描過程中，可以同時得到力－距離曲線和力的值。

c.  剪切力模式：可以用來實現(xiàn)SNOW系統(tǒng)。

d. SKM對半導體表面成分分析十分有用。

e. RM和電壓刻蝕：利用這兩個模式可以在納米尺度實現(xiàn)機械和電壓表面修飾。

2.集成測量頭

在一次掃描過程中，可以同時得到4種不同的信息。

掃描器

NT-MDT提供一套用于校正的標準光柵（6片），用其進行掃描器的校正和針尖質量的控制。。

樣品大小

大樣品也可以進行測量。

光學觀測系統(tǒng)

多樣的光學觀測系統(tǒng)配置可以*客戶的需求。

針尖與樣品的驅近

1. 驅近系統(tǒng)的機械設計可使得經過幾次驅近之后仍然能獲得相同的檢測區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個特點可以讓您在幾周內仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。

2. 在完成驅近之后，可以對所要檢測的區(qū)域進行自動掃描，因此實驗人員只需很短的時間便可以在SPM上獲得檢測結果。

3. 允許手動驅近。

電子學

每個軸（X,Y和Z）通過2個16位DAC來實現(xiàn)22位的掃描精度，再加上極低的系統(tǒng)噪音，所以Solver使用50mm的掃描器也能實現(xiàn)原子級分辨率。

計算機

我們的顯微鏡可以在任何兼容計算機機上進行操作。如果您不想購買額外的計算機，那么您還可以將這臺用于SPM的計算機用于其他用途。

軟件

多樣的圖像處理方法；

圖像處理軟件可以在網站免費下載；

可以處理DI,PSI, Topometrix和其他SPM廠家的數(shù)據(jù)文件樣本；

可以根據(jù)用戶需要來定制軟件。

隔震系統(tǒng)

在通常的實驗室中，不需要增加額外的隔震系統(tǒng)（在通常的實驗室環(huán)境下就可以得到原子級圖像）。

其他優(yōu)點

鈦合金結構和*的SPM測量系統(tǒng)設計提供了zui低的熱漂移，讓您可以打開系統(tǒng)之后馬上就可以開始測量了。

在這方面，NT-MDT盡全力滿足客戶的期望。